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afm sem 분석

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"afm" 검색결과 21-40 / 794건

전자현미경(TEM, SEM, AFM)에 대한 PPT

About SEM, TEM, AFM 소속 이름 학번INDEX 1 2 TEM - 개념 구조 - 원리 3 AFM - 개념 구조 - 원리 SEM - 개념 구조 - 원리 4 ... 한 전자빔은 다시 여러 개의 자기렌즈를 거쳐 최종적으로 형광판이나 CCD 검출기로 검출되어 모니터 화면에 출력된다 . Ref. 9) Ref. 10)AFM원자간력현미경은 특히 수용액 ... 할 수 있는 상을 얻는 현미경이다 . CONCEPT AFM - 개념 Ref. 11) 분자내에 작용하는 미소한 힘을 측정하는 목적에도 사용된다 .AFM - 구조 Ref. 12) A

리포트 | 20페이짿� | 3,000원 | 등록일 2021.05.25 | 수정일 2023.09.15

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V 형상을 가지는 원자현미경 Cantilever의 정량적 마찰력 교정 (Quantitative Lateral Force Calibration of V-shaped AFM Cantilever)

한국트라이볼로지학회 이희준, 김광희, 김현태, 강보람, 정구현

논�� | 9페이짿� | 무료 | 등록일 2025.03.17 | 수정일 2025.03.28

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[실험설계] 스핀코팅의 원리 및 AFM 분석

[실험설계]스핀코팅의 원리 및 AFM 분석[목차]1. 스핀코팅 (Spin coating)2. Surface profiler3. Atomic Force Microscope (AFM ... )1) 접촉식 (contact mode) AFM2) 비접촉식 (non-contact mode) AFM4. 실험 방법(1) 시료 제작(2) 측정 방법(3) 두께 측정(4) 표면 ... 한다. 이 때 사용하는 용매는 boiling point 가 낮아 증발이 잘 되는 물질은 사용을 피한다.3. Atomic Force Microscope (AFM)팁과 샘플 사이

리포트 | 6페이짿� | 4,000원 | 등록일 2024.10.27

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Atomic Force Microscope(AFM) 결과보고서

AFM (Atomic Force Microscope)은 Scanning probe microscopy의 일종으로 AFM의 Probe는 시료표면을 따라가며 Probe와 표면사이 ... 에 작용하는 반데르발스힘의 변화를 측정하여 표면정보를 나타낸다. AFM의 탐침자는 Cantilever라고 불리는데, 이 Cantilever는 뾰족한 Tip을 끝에 가지고 있어 팁

리포트 | 4페이짿� | 3,200원 | 등록일 2021.03.26 | 수정일 2022.10.20

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SPM 현미경의 종류/원리/특징(STM,AFM

일체를 통칭하며, 그 물리량에 따라 AFM, FFM, SMM, SNOAM, MFM등으로 구분된다.II. SPM의 기본 원리(STM, AFM)ⅰ. STM(Scanning ... 재구성하여 표면의 구성을 관찰한다.(전류 구동방식, 높이 구동방식)ⅱ. AFM(Atomic Force Microscope) - SPM의 단점 보완(시편이 도체가 아니어도 됨)접촉 ... 모드 AFM(원자사이의 척력 사용)?길이가 100μm, 폭 10μm, 두께 1μm 정도의 아주 미세한 캔틸레버를 시편에 가까이 한다.?캔틸레버는 시편 표면의 원자와의 거리에 따라

리포트 | 2페이짿� | 1,500원 | 등록일 2020.12.16

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접촉식(contact-mode) 원자현미경(AFM)을 이용한 Au 나노 입자의 이동. (Manipulation of Au nano particles using an atomic force microscope.)

를 가지고 있다. 본 연구에서는 나노구조 제작을 위한 나노 조작 방법으로 Atomic Force Microscope(AFM)을 이용하여 크기가 50 nm $\sim$ 100 nm 인 ... 다양한 크기의 Au나노 입자를 이동시킴으로써 간단한 나노 구조를 제작하였다. AFM의간극 조절 피드백을 작동한 상태에서 접촉 방식(contact mode)과비접촉 방식(non-c ... N/m의 용수철 상수를 갖는캔티레버의 탐침이 이러한 방식의 AFM 나노조작에 적합한 것으로나타났다. The phenomenon of near-field nhancement

논�� | 5페이짿� | 무료 | 등록일 2025.05.31 | 수정일 2025.06.05

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분황 원효 『대승기신론소』의 내용과 특징 ― 『대승기신론별기』와 『대승기신론이장의』와 관련하여 ― (The content and special features of Wonhyo’s Commentary on Awakening of Faith in Mahayana: Focusing on Abbreviated Reference to the AFM and System of the Two Hindrances in the AFM)

동국대학껓 세계불교학연구소 고영섭

논�� | 60페이짿� | 무료 | 등록일 2025.04.22 | 수정일 2025.05.13

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구형 및 평면 원자현미경 탐침에 대한 2차원 소재의 마찰 특성 (Frictional Properties of Two-dimensional Materials against Spherical and Flat AFM Tips)

한국트라이볼로지학회 Bien-Cuong Tran Khac, 정구현

논�� | 7페이짿� | 무료 | 등록일 2025.03.17 | 수정일 2025.03.28

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초음파원자현미경 캔틸레버의 동특성 해석과 탄성특성 평가 (Evaluation of Elastic Properties and Analysis of Contact Resonance Frequency of Cantilever for Ultrasonic AFM)

한국비파괴검사학회 박태성, 곽동열, 박익근, 김정석, 장경영

논�� | 7페이짿� | 무료 | 등록일 2025.03.17 | 수정일 2025.03.28

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[KAIST] Measuring Properties of Elastomers using AFM Force Curves

In this experiment, atomic force microscopy (AFM) is used for the determination of force constant ... and curing agent ratio. Common AFMs are consisted of mainly three parts: cantilever with a sharp tip

리포트 | 8페이짿� | 2,500원 | 등록일 2024.11.15 | 수정일 2024.11.18

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[고분자 화학] AFM을 이용한 ITO glass 분석

AFM을 이용한 ITO glass 구조분석Ⅰ. Abstract이 글은 최근에 LCD, PDP 등의 얇고 평평한 디스플레이에 들어있는 ITO glass를 원자간력현미경(Atomic ... Force Microscope, AFM)을 통해 시료의 표면 형태를 분자단위에서 관찰해 보았다. 관찰해본다. 이러한 실험을 바탕으로 투명전극재료인 ITO glass에 대한 이론 ... , 원자간력현미경에 대한 이론, AFM을 이용한 ITO glass 실험 과정 및 분석 순으로 기술되어 있다.Ⅱ. Introduction1. ITO(Indium-Tin Oxide)한국

리포트 | 8페이짿� | 3,000원 | 등록일 2021.08.22

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원자간력 현미경을 이용한 단일세포 조작 및 고효율 유전자 도입기술 (Atomic Force Microscopy(AFM) based Single Cell Manipulation and High Efficient Gene Delivery Technology)

한국화학공학회 한성웅, Nakamura Chikashi, Miyake Jun, 김우식, 김종민, 장상목

논�� | 8페이짿� | 무료 | 등록일 2025.03.18 | 수정일 2025.03.28

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SEM FTIR AFM 을 이용한 금나노 입자 분석 레포트

FTIR, SEM, AFM을 이용한 금나노입자 (AuNP) 관찰 및 분석Observation and Analysis of AuNPs by FTIR, SEM ... , AFMMaterials100nm 직경의 AuNP 수용액(저번 실험에서 제조한 것 사용)FTIR 분석장비SEM 현미경AFM 현미경Results저번 실험에서 만든 100nm 크기의 AuNP를 SEM ... 결합으로 인한 것으로 극점이 발견되었다고 볼 수 있다. (1)마지막으로, AuNP 수용액을 AFM으로 관찰한 결과는 다음의 사진과 같다.Discussions이번 실험은 합성된 금나노

리포트 | 4페이짿� | 2,000원 (20%↓) 1600원 | 등록일 2022.04.13 | 수정일 2022.05.20

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모발의 나노 트라이볼러지 특성해명을 위한 원자현미경(Atomic Force Microscopy) 프로브의 개발 (A New Design of AFM Probe for Nanotribological Characterizations Measurement of Human Hair)

한국반도체디스플레이기술학회 권현규, 고언위

논�� | 7페이짿� | 무료 | 등록일 2025.03.18 | 수정일 2025.03.28

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마이크로 구조물의 원자현미경 캔티레버 부착을 위한 정밀기구개발 (Development of Precision Instrument for attaching Micro-structure(Glass Bead) on the AFM cantilever)

한국기계가공학회 박창용, 채영훈, 권현규

논�� | 8페이짿� | 무료 | 등록일 2025.03.18 | 수정일 2025.03.28

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유한요소 해석을 이용한 초음파원자현미경 캔틸레버의 접촉 공진주파수 특성 분석 (Analysis of Contact Resonance Frequency Characteristics for Cantilever of Ultrasonic-AFM Using Finite Element Method)

한국생산제조학회 이주민, 한유하, 곽동열, 박익근

논�� | 7페이짿� | 무료 | 등록일 2025.03.18 | 수정일 2025.03.28

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원자력/UV분광 복합 현미경을 이용한 단일 ZnO 나노선의 형광 스펙트럼 특성 연구 (Photoluminescence and Raman Spectra of Single Strands of ZnO Nanowires Obtained by Using AFM/Optical Combined Microscope)

한국물리학회 김련, 김정용, 윤창준, 김상식

논�� | 6페이짿� | 무료 | 등록일 2025.03.18 | 수정일 2025.03.28

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[A+] 단국대 고분자공학실험및설계2 <코팅 방법 -Atomic Force Microscope (AFM)> 레포트

1. 실험 목적- AFM으로 물질의 표면거칠기를 측정하고, 측정원리와 RMS 값이 나오는 계산에 대해서 이해할 수 있다.-코팅 방법 변화에 따른 Roughness 차이를 이해 ... 분석가능하다는 장점과 진공, 액상조건에서도 분석할 수 있는 장점이 있다. 이러한 장점 때문에 현재 SPM은 나노표면 분석용으로 보편적인 장비가 되고 있다. AFM, STM을 통칭 ... 하는 SPM은 적용에 따라서 추가적인 장비를 부착하여 새로운 기능을 추가할 수 있는 유연성이 있다.AFM은 수십 마이크로미터의 캔틸레버 끝에 미세한 팁을 달아 표면에 가까이 하

리포트 | 8페이짿� | 6,000원 | 등록일 2024.09.16 | 수정일 2024.10.17

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5 AFM

다. SPM의 종류로 STM(Scanning Tunneling Microscope), AFM(Atomic Force Microscope) 등이 있다. STM의 가장 큰 결점은 전기 ... 적 으로 부도체인 시료를 볼 수 없다는 것인데, 이를 해결한 것이 AFM이다. Figure 1과 Figure 2는 AFM의 구조를 나타낸 그림이다. AFM에서는 마이크로머시닝 으로 제조 ... 표면에 적용되는 힘이나 궁극적인 AFM의 lateral solution을 결정하기 때문에 AFM에 있어서 가장 중요한 요소 중의 하나이다. 일반적인 cantilever는 Si

리포트 | 10페이짿� | 3,000원 | 등록일 2018.04.03

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AFM-발표 자료(PT)

이었던 Binning, Roher , Gerber 와 Weibel 에 의해 1982 년에 개발 정의 : STM (Scanning Tunneling Microscope) 과 AFM ... 된다 . 5) STM 단점 AFM2. AFM 이란 ?1) AFM (Atomic Force Microscope) STM(Scanning Tunneling Microcopy) 의 문제점 ... 해결 원자와 원자와의 반발력과 인력 전기적인 특성과 무관하므로 도체 , 반도체 및 부도체등 모든 시료의 분석에 범용적으로 적용2) AFM 원리 캔틸레버 (Cantilever

리포트 | 23페이짿� | 3,000원 | 등록일 2019.11.06

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